一种单通道双增益的高精度测量方法、系统、设备及介质

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一种单通道双增益的高精度测量方法、系统、设备及介质
申请号:CN202411468907
申请日期:2024-10-21
公开号:CN119363113A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种单通道双增益的高精度测量方法、系统、设备及介质,方法包括设定过采样率,基于过采样率对模拟输入信号进行过采样时,实现达到预设高数值的信噪比;过采样率与信号采样频率、奈奎斯特频率之间存在关联映射;将两个模数转换器通道合并以对同一模拟输入信号进行采样;两个模数转换器的通道均设有编程增益放大器,配置成可接收不同数值大小的输入信号,并使用不同的增益级别扩展模数转换器的信号捕获范围;在执行信号采样时,基于过采样率和不同数值的信号输入范围进行信号采样操作;本申请能够同时测量信号的标称状况和故障状况,提供更宽的信号测量量程,提高信号解析精度。
技术关键词
高精度测量方法 模数转换器 采样率 增益放大器 信号信噪比 数值 检测信号幅值 频率 高增益模式 增益系统 编程 矫正算法 可读存储介质 通道 处理器 噪声功率