芯片测试中的线路检测方法及装置

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芯片测试中的线路检测方法及装置
申请号:CN202411488159
申请日期:2024-10-23
公开号:CN119270150A
公开日期:2025-01-07
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片测试中的线路检测方法及装置,属于芯片测试技术领域。该方法包括:分别为测试设备和测试电路板间的多个数字输入输出DIO通道分配相应的目标电压幅值;当多个DIO通道中每个DIO通道的实际电压值均在预设范围内时,在测试界面显示通道连接正确的提示,启动后续测试程序;或者,当多个DIO通道中存在至少一个DIO通道的实际电压值不在预设范围内时,在测试界面显示通道连接错误的提示,中断启动后续测试程序。本方法,通过分配目标电压幅值后,检测每个通道中的实际电压值来判断线路连接状态,在连接失败时及时中断测试,有效预防因线路连接错误导致的测试失误,提升芯片测试的效率、可靠性。
技术关键词
测试电路板 通道 线路检测方法 电压 幅值 测试设备 继电器 计算机设备 线路检测装置 芯片测试技术 可读存储介质 控件 处理器 模块 存储器 电源 信号