基于特征耦合和自适应多尺度残差网络的近红外光谱定量分析方法
申请号:CN202411490795
申请日期:2024-10-24
公开号:CN120579118A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种基于特征耦合和自适应多尺度残差网络的近红外光谱定量分析方法。首先通过特征耦合层捕捉不同波长光谱之间的相关性,融合不同波段的丰富信息以扩充有效特征,增强了光谱数据的关键特征表征能力,有效应对了不同数据集间波动差异性大的问题,提升了模型的泛化性能;然后,通过堆叠多尺度残差块构建骨干网络,并嵌入特征调节器模块自适应地挖掘深度抽象的多尺度特征。该网络在平衡模型宽度与深度的同时,提高了预测精度和稳健性。本方法在四个开源的近红外光谱数据集上取得了比较好的预测效果,具有通用性和良好的泛化能力。
技术关键词
近红外光谱定量分析方法
耦合方法
残差网络
深度预测模型
多尺度特征提取
成分分析方法
调节器
深度学习框架
光度
数据
网络深度
反射率
嵌入特征
波长
特征值
表达式
无监督