一种面向芯片电源修调模块的自适应拟合量产测试方法

本发明提出了一种面向芯片电源修调模块的自适应拟合量产测试方法，包括：S1、提供一款被测电源芯片；S2、所述被测芯片的电源模块修调码值和电源输出值关系验证；S3、使用自适应拟合法公式计算出所述被测芯片的电源模块修调步长；S4、对所述修调步长通过算法转化为二进制修调码值；S5、对所述修调码值烧入芯片进行修调后验证并完成修调。本发明方法解决了电源模块量产测试修调精度不够导致的良率损失，同时减少测试时间节约测试成本。