一种量子芯片检测工装及检测装置

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一种量子芯片检测工装及检测装置
申请号:CN202411523154
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119291466A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及量子芯片检测技术领域,特别是涉及一种量子芯片检测工装及检测装置,包括安装底座,安装底座底部固定安装有竖直伸缩杆,竖直伸缩杆上安装有连接条块,连接条块通过连接头与竖直伸缩杆的伸缩端固定连接,连接条块内壁上开设有限位安装槽,限位安装槽中安装有距离调节组件,距离调节组件上安装有第一夹持条和第二夹持条,第一夹持条和第二夹持条上均开设有让位通孔槽,让位通孔槽中安装有滑动夹持定位组件,滑动夹持定位组件分为两组;本发明能够有效防止在检测过程中芯片因晃动或位移而导致的误差,并且能够避免造成对芯片本体的部分遮挡影响检测的全面性;提高了检测效率,适应不同的检测需求,提高了检测的准确性和适应性。
技术关键词
量子芯片检测装置 检测工装 竖直伸缩杆 定位组件 升降推杆 安装底座 螺纹滑块 距离调节 调节丝杠 双向螺纹 旋转调节组件 探针座 检测探针 限位滑槽 调节滑块 驱动齿环 步进电机 圆板