基于TRL探头的奥氏体不锈钢稀疏阵列全聚焦成像方法

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基于TRL探头的奥氏体不锈钢稀疏阵列全聚焦成像方法
申请号:CN202411524615
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119335054A
公开日期:2025-01-21
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于TRL探头的奥氏体不锈钢稀疏阵列全聚焦成像方法,包括:利用声束指向旁瓣幅值水平作为目标函数,结合遗传算法建立优化数学模型,获得TRL探头的稀疏阵列排布方式。使用TRL面阵探头采集厚壁奥氏体不锈钢全矩阵数据,通过优化后的TRL阵元排布进行稀疏阵列成像。由满阵的623.91s成像时间降低至50s左右,成像速度提升了约92%,而缺陷信噪比仅降低了14.69%。本发明可在少量损失成像质量的情况下,大幅提升TFM成像效率,实现了检测效率与成像质量的良好平衡。
技术关键词
奥氏体不锈钢 聚焦成像方法 阵列 探头 遗传算法建立 排布方式 遗传算法优化 波束 数学模型 费马原理 超声信号 坐标 幅值 信噪比 像素点 矩阵 超声波 介质
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