一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法

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一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法
申请号:CN202411543748
申请日期:2024-10-31
公开号:CN119509348B
公开日期:2025-12-02
类型:发明专利
摘要
本发明涉及LCD模组检测技术领域,尤其是指一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法,其包括以下步骤:图像采集:在流水线上的传送带对氧化物LCD模组逐行扫描,通过对移动的氧化物LCD模组将其每一行的像素点逐一捕捉,并将其转换为数字信号;获取氧化物LCD模组的Mark点;得到物体在图像中的尺寸;建立距离参考坐标系;利用该坐标系进行银奖规格的测量和分析;通过测量目标物体上的各个点与坐标系原点的距离和方向,确定这些点的位置以及尺寸;区分银浆涂布区域;涂布规格判定。本发明可快速对银浆涂布后的氧化物LCD模组的银浆规格进行实时检测,有助于提高模组生产线的生产效率、降低生产成本,实现全自动化模组产业。
技术关键词
LCD模组 涂布 关键点 线阵相机 坐标系 像素点 计算方法 物体 传送带 尺寸 图像处理 灰度直方图 查找算法 遍历算法 排序算法 类间方差 流水线 极值