一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统
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一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统
申请号:
CN202411549820
申请日期:
2024-11-01
公开号:
CN119354072B
公开日期:
2025-09-16
类型:
发明专利
摘要
本发明设计一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统,首先使用稀疏表示算法分解反射的太赫兹时域光谱,可将混叠的反射信号有效区分;然后通过重构算法处理分解得到的稀疏解,可自动、精确地定位反射信号的幅度和时间间隔;最后,利用菲涅尔公式和反射模型计算出材料的折射率,进而根据折射率和反射峰的时间间隔计算出热胀涂层的几何厚度。
技术关键词
涂层检测方法
稀疏重构算法
涂层材料
时域光谱仪
字典
时域光谱系统
矩阵
信号获取模块
脉冲
正则化参数
时间差
信息模块
序列
基础
关系
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