多通道VCSEL芯片的单通道功率测试方法及其系统

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多通道VCSEL芯片的单通道功率测试方法及其系统
申请号:CN202411573480
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119064668B
公开日期:2025-05-20
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种多通道VCSEL芯片的单通道功率测试方法及其系统,在测试时,提供一驱动信号,以使驱动信号驱动待测多通道VCSEL芯片全通道处于点亮状态;获取点亮状态下的待测多通道VCSEL芯片的全通道总功率和近场图像;根据近场图像获取待测多通道VCSEL芯片的单通道灰度值占比;以及,根据全通道总功率和单通道灰度值占比获取待测多通道VCSEL芯片的单通道功率。本申请中通过全通道总功率检测和近场图像处理结合的方式获取待测多通道VCSEL芯片的单通道功率,避免对多通道VCSEL芯片进行重复测试获取单个通道的功率,缩短的测试时间。
技术关键词
VCSEL芯片 功率测试方法 多通道 功率测试系统 驱动信号 功率检测装置 图像获取装置 光脉冲 脉宽检测 周期 图像处理 波形 光信号 处理器