涂层缺陷识别方法、装置、设备、介质及程序产品
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涂层缺陷识别方法、装置、设备、介质及程序产品
申请号:
CN202411576543
申请日期:
2024-11-06
公开号:
CN119064376B
公开日期:
2025-03-04
类型:
发明专利
摘要
本申请公开了一种涂层缺陷识别方法、装置、设备、介质及程序产品,其中,方法包括获取电子器件的仿真模型的涂料仿真参数;仿真模型包括电子器件的三维仿真模型以及处于三维仿真模型表面的仿真涂层;涂料仿真参数,用于驱动仿真涂层进行相变,得到仿真涂层从液相变为固相的过程中的状态参数;显示仿真涂层从液相变为固相的过程中的参数分布图像;其中,参数分布图像基于仿真涂层的状态参数确定;基于仿真涂层的参数分布图像,输出仿真涂层的缺陷识别结果。这样,能够提高识别涂层缺陷的准确性。
技术关键词
三维仿真模型
涂层
缺陷识别方法
仿真器
气泡
参数
电子器件
场图像
涂料
温度变化信息
元器件
数值
数学模型
液相
网格
识别装置
界面
处理器