一种基于瞬态栅间距的变孔径栅孔离子引出能力分析方法

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一种基于瞬态栅间距的变孔径栅孔离子引出能力分析方法
申请号:CN202411591398
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119129288B
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种基于瞬态栅间距的变孔径栅孔离子引出能力分析方法。所述方法包括:获取离子引出能力分析的等离子体温度分布和等离子体密度分布;根据所述等离子体温度分布和栅极组件热仿真模型,计算出所述离子引出能力分析的瞬态栅间距;根据所述等离子体温度分布、所述等离子体密度分布和所述瞬态栅间距,构建所述离子引出能力分析的栅孔数值仿真模型;根据所述栅孔数值仿真模型对各个区域的栅孔进行仿真计算,确定所述离子引出能力分析的单个栅孔离子引出能力、以及栅间距和等离子体密度之间的变化规律。本申请将放电室内的等离子体密度分布、等离子体温度分布和瞬态栅间距结合起来,获得单个栅孔离子引出能力,准确快速评估离子推力器的性能。
技术关键词
数值仿真模型 热仿真模型 栅极组件 能力分析方法 间距 密度 放电室 离子束 分析装置 离子推力器 模块 关系
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