一种成型不良智能检测方法及系统
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一种成型不良智能检测方法及系统
申请号:
CN202411595185
申请日期:
2024-11-11
公开号:
CN119107320B
公开日期:
2025-03-07
类型:
发明专利
摘要
本申请提供了一种成型不良智能检测方法及系统,涉及智能检测的技术领域,所述检测方法包括:数据采集、添加标签、第一建模、第一模型训练、第一分类、分类判断、第二模型训练和第二分类等步骤;所述检测系统包括:数据采集模块、添加标签模块、第一建模模块、第一模型训练模块、第一分类模块、分类判断模块、第二模型训练模块和第二分类模块,本申请能够基于历史数据,提升成型不良分类的准确性。
技术关键词
智能检测方法
置信度阈值
实时数据
深度学习算法
模型训练模块
建立分类模型
训练分类模型
标签模块
数据采集模块
智能检测系统
数值
强化学习算法
非线性
决策
指标