一种超高分辨率的多层结构界面分层超声检测方法

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一种超高分辨率的多层结构界面分层超声检测方法
申请号:CN202411596291
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119147650B
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及多层复合材料缺陷检测技术领域,具体涉及一种超高分辨率的多层结构界面分层超声检测方法,包括:构建多层结构界面及其网格模型,将每个网格点设为采集点,通过配置激励信号,获取每个采集点的原始回波信号,并确定基准信号和平移窗口参数,在每个采集点的原始回波信号上应用移动平移窗口,计算窗口内信号与基准信号的相关系数,得到相关系数与平移距离的关系,分别对每个采集点的相关系数与平移距离进行分析,结合分析结果提取每个采集点的相位特征数据,将相位特征数据映射到网格模型的相应空间位置,生成多层结构界面的分层缺陷检测图像。本发明通过综合利用信号处理和空间映射技术,实现了多层结构界面分层缺陷的高精度检测。
技术关键词
多层结构 超声检测方法 回波 分层缺陷 网格模型 相位特征 界面 信号分析 基准 平移窗 多层复合材料 缺陷检测技术 超声波 映射技术 介质 插值算法 扫描单元