一种基于DCS控制系统的微控变比测试方法及系统

本发明属于工业自动化控制技术领域，提供一种基于DCS控制系统的微控变比测试方法及系统，用以解决现有技术中难以提供足够的控制精度和灵活性的问题。其中，连续记录不同工作条件下微控变比的变化值以及工作参数的波动；对变化值进时监测，检测变化值的异常趋势，并预测变化值的变化趋势；确定变化值与设定标准值之间的偏差，并调整微控变比测试设备的工作参数；根据调整后的工作参数，重新启动微控变比测试设备，并重复变化值监测、偏差确定和工作参数调整过程；当微控变比测试设备的工作参数达到预设精度要求时，通过DCS控制系统输出最终的微控变比测试结果。本发明提供的技术方案能有效提高微控变比测试设备的控制精度。