算法评估方法、装置、电子设备及介质

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算法评估方法、装置、电子设备及介质
申请号:CN202411615655
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119741591A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种算法评估方法、装置、电子设备及介质,涉及计算机技术领域。该方法包括:利用待测试算法对指定数据集中的各数据样本进行处理,获得第一处理结果集;利用第一大模型对指定数据集进行处理,获得第二处理结果集;根据第二处理结果集与指定数据集中各数据样本的标签信息,确定第一漏检率和/或第一误检率;第一漏检率和/或第一误检率用于指示指定数据集的质量;根据第二处理结果集与第一处理结果集,确定第二漏检率和/或第二误检率;比对第一漏检率与第二漏检率,和/或,比对第一误检率与第二误检率,确定待测试算法的性能。该方法能够准确评估算法的性能,排除数据质量、数据标注等原因造成的评估误差。
技术关键词
数据 样本 图像识别算法 标签 通信接口 电子设备 图文 评估算法 存储器 处理器 评估装置 测试模块 可读存储介质 报告 程序 计算机
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