自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质

本公开提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质，通过上位机测试软件运行初始测试工程的工程文件，控制底层测试软件先对待测芯片在各个测试场景中的全量配置参数进行一次初始化配置，在初始测试工程的运行过程中可以抓取上位机测试软件向底层测试软件发送的用于指示底层测试软件进行参数配置的第一数据包，后续可以基于待执行测试工程对应的目标配置参数，直接利用第一数据包进行参数重置，自动触发底层测试软件执行对应的测试工程，可以实现批量测试工程的连续、自动执行，无需用户手动编写和运行每个测试场景对应的测试工程文件，提高了芯片测试效率。