摘要
本发明提供了一种芯片对数据库图像比对定位的方法及系统,属于半导体领域。该芯片对数据库图像比对定位的方法包括提供一GDS原始文件,所述GDS原始文件包括集成电路设计时的原始图形;获取原始图形的关键尺寸,筛选原始图形的关键尺寸分别为第一设定值和第二设定值的图形;对晶圆进行刻蚀,获取刻蚀之后的图形;对刻蚀之后的图形进行量测,获取第一图形和第二图形的关键尺寸的变化量,并基于变化量,获取原始图形的关键尺寸的补偿值。本发明通过内差的方式,获取GDS文件中的图形的关键尺寸补偿值,能够避免晶圆刻蚀后的图像,由于收缩或扩张的大小不同,造成检测机台定位失败。