基于低场磁共振弛豫技术的土遗址透气性能预测方法

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基于低场磁共振弛豫技术的土遗址透气性能预测方法
申请号:CN202411649499
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119715652B
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及基于低场磁共振弛豫技术预测土遗址透气性能的方法,属于文物保护技术领域。解决土遗址透气性能测试方法耗时耗力、适用性差和易破坏土体等问题。夯土试件制备;夯土试件低场磁共振弛豫测试分析;不同含水率夯土试件气体渗透率测试;确定不同含水率夯土试件气体渗透率与非饱和孔隙结构的关系模型。采用非侵入性的低场磁共振弛豫测试技术,无损土遗址本体,原状测试土遗址内部孔隙水分布,极大地提高测试效率与准确度,有助于构建土遗址非饱和孔隙结构与其透气性能间的重要模型,预测土遗址透气性能的演变趋势,实现对土遗址透气性能的连续监测,为土遗址的保护与修复提供科学依据。
技术关键词
低场磁共振 试件 横向弛豫时间 气体 回波 孔隙结构 预测模型构建方法 反演算法 文物保护技术 表达式 蓝色硅胶 测试方法 土体孔隙 通道 参数 测试仪器 信号 测试设备 理论