硬件架构的性能测试方法及装置

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硬件架构的性能测试方法及装置
申请号:CN202411649624
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119512840A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种硬件架构的性能测试方法及装置,其中,该方法包括:响应于来自中央处理器的测试开始信号,控制硬盘测试单元执行性能测试任务;在性能测试任务的执行过程中,通过已配置的PCIE链路,在中央处理器和硬盘测试装置之间传输性能测试任务的测试数据,其中,PClE链路是交换芯片通过来自中央处理器下发的配置命令来配置的;在性能测试任务执行完成的情况下,通过已配置的PCIE链路,将测试数据回传给中央处理器,得到中央处理器输出的测试结果,其中,测试结果是硬件架构的硬盘性能测试结果。通过本申请,解决了硬件架构的性能测试效率较低的问题,进而达到了提高硬件架构的性能测试效率的效果。
技术关键词
中央处理器 硬盘性能测试 NVME硬盘 硬盘测试装置 系统硬盘 链路 性能测试方法 硬盘模组 测试组件 芯片 多节点 场景 脚本 信号 命令 性能测试装置 HDMI接口 操作系统