一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法
# 热门搜索 #
大模型
人工智能
openai
融资
chatGPT
AITNT公众号
AITNT APP
AITNT交流群
搜索
首页
AI资讯
AI技术研报
AI监管政策
AI产品测评
AI商业项目
AI产品热榜
AI专利库
寻求报道
一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法
申请号:
CN202411662527
申请日期:
2024-11-20
公开号:
CN119203918B
公开日期:
2025-03-04
类型:
发明专利
摘要
本发明的目的是提供一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法,该方法包括:构建电压标识器件;采用所述电压标识器件在构建的电路上进行标注;根据构建的电路生成对应的版图;构建calibre LVS工具的比对规则;采用calibre LVS工具根据比对规则验证所述版图是否存在电压误标或漏标的情况。本发明通过calibre LVS工具智能检测是否存在电压误标和漏标的情况,使得检测的效率和准确率大大提高,避免了由于没有判断出压差过大的地方导致芯片击穿的事故发生。
技术关键词
版图
检验方法
电压
标识
计算机程序代码
芯片
电子设备
可读存储介质
检验系统
逻辑
电路单元
校验模块
处理器
指令
存储器
定义