一种芯片测试方法、装置及电子设备

本申请提供了一种芯片测试方法、装置及电子设备，涉及芯片测试技术领域，包括：获取目标测试芯片的应用需求信息；并行测试确定测试周期及并行分布式测试布局结构，确定第一覆盖度集合；交叉测试确定测试深度及交叉分布式测试布局结构，确定第二覆盖度集合；通过测试周期及并行分布式测试布局结构、测试深度及交叉分布式测试布局结构，依据第一覆盖度集合、第二覆盖度集合模拟测试环境，对目标测试芯片进行迭代测试。通过本申请可以解决现有技术中由于芯片的复杂性增加，测试覆盖率的要求提高，导致芯片测试的效率不佳的技术问题，通过建立两个覆盖度集合，结合并行与交叉测试布局，提高了芯片测试的覆盖率和效率。