芯片测试载具和芯片测试设备

本申请涉及一种芯片测试载具和芯片测试设备，涉及半导体技术领域，该芯片测试载具包括载板主体和盖板，载板主体包括底板和限位围墙，底板上设置有探针，限位围墙设置在底板的边缘，并围设在探针周围，限位围墙和底板形成具有开口的定位空腔；盖板可拆卸地设置在限位围墙上，且盖板被配置为封堵开口，并压合待测芯片。通过将待测芯片放置于载板主体的定位空腔内，并用盖板封闭开口，可以有效隔绝外部环境对待测芯片的直接影响，提高芯片的物理保护水平，减少损坏风险，并且定位空腔和盖板能够更好地实现对待测芯片的固定。因此在测试过程中对待测芯片的固定和保护效果更好，能够实现良好的测试效果，提升产品的良率。