一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统

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一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统
申请号:CN202411686011
申请日期:2024-11-24
公开号:CN119620150B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统,以实现采用较少的探测设备,一次性反演电子和质子能谱的目的。探测器为单探测器,探测器同时探测电子和质子,该方法包括:基于探测器,生成第一反演模型;其中,第一反演模型包括局部松驰系数和双正则系数,双正则系数包括对应电子的第一正则化系数和对应质子的第二正则化系数;预设局部松驰系数的局部松驰系数集合和双正则系数的双正则系数集合,基于局部松驰系数集合和双正则系数集合,采用基于双正则系数的Boosted‑Gold算法对第一反演模型进行迭代计算,记录符合预设收敛条件的能谱范数和残差范数;基于谱范数和残差范数生成L曲线,将L曲线的拐点作为反演最佳解。
技术关键词
反演模型 探测器 反演方法 电子 粒子 反演系统 矩阵 测量误差 曲线 处理单元 基础 探测设备 算法 通道 元素