一种基于LGP-DETR目标检测模型的导光板表面缺陷检测方法

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一种基于LGP-DETR目标检测模型的导光板表面缺陷检测方法
申请号:CN202411703151
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119648653A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于LGP‑DETR目标检测模型的导光板表面缺陷检测方法,该方法包括以下步骤:构建具有骨干网络单元、颈部网络单元和头部网络单元的LGP‑DETR目标检测模型,骨干网络单元基于FasterNet神经网络架构而构建,颈部网络单元包括多个标准卷积模块、结合可变形注意力机制与Transformer编码器结构的DtransFusion模块、用于轻量级动态上采样的DySample模块、具有重参化卷积特性的RepC3模块、结合正交通道注意力机制与RepC3模块结构的OrthoC3模块;对LGP‑DETR目标检测模型进行训练;获取导光板的表面图像,将其输入训练完毕的LGP‑DETR目标检测模型进行缺陷检测;输出导光板的表面缺陷信息。本发明有效克服导光板表面缺陷中小目标、低对比度及复杂纹理背景等检测难点,显著提高检测精度并有效提升检测速度。
技术关键词
表面缺陷检测方法 网络单元 卷积模块 导光板 神经网络架构 注意力机制 分支 编码器结构 上采样 模块结构 元素 交通 输出特征 图像 解码器 对比度 训练集 动态