一种电磁线绝缘层耐电晕寿命加速预测方法及装置

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一种电磁线绝缘层耐电晕寿命加速预测方法及装置
申请号:CN202411704862
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119199363B
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本申请属于数据处理领域,尤其涉及一种电磁线绝缘层耐电晕寿命加速预测方法及装置,该方法包括:对于电磁线绝缘层中的测试样本,采集测试样本在不同温度下的电导电流密度以及施加电场强度;基于不同温度下的电导电流密度以及施加电场强度确定测试样本对应的电老化阈值;基于电老化阈值执行加速耐电晕测试,得到测试样本在多个测试环境下的短时耐电晕寿命测试值;基于短时耐电晕寿命测试值构建加速预测模型;将目标样本所处的运行环境参数输入到加速预测模型中,得到对应的目标耐电晕寿命。通过短时耐电晕寿命测试值构建加速预测模型,采用加速预测模型实时预测对应的耐电晕寿命,提升耐电晕寿命预测效率,提高耐电晕寿命预测值的准确性。
技术关键词
电磁线绝缘层 电场 耐电晕测试 样本 薄膜材料 关系预测模型 寿命预测装置 预测模型训练 噪声强度 参数 数据分布 输入输出单元 存储计算机程序 动态 噪声数据