一种电池芯片加工用可靠性测试设备及其方法

本发明公开了一种电池芯片加工用可靠性测试设备及其方法，包括测试设备主体，所述测试设备主体正面固定安装有控制器，所述测试设备主体顶部固定连接有振动测试机构；所述振动测试机构顶部设有高温测试机构，所述测试设备主体后侧固定连接有升降机构，所述升降机构与高温测试机构固定连接。本发明具备高效测试的优点，解决了现有的电池芯片加工用可靠性测试设备在使用的过程中，对电池芯片的高温测试和振动测试的效率较低，导致了电池芯片的测试周期过长，影响电池芯片整体的生产效率的问题。