基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法

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基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法
申请号:CN202411713869
申请日期:2024-11-27
公开号:CN119205774B
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本发明属于光子集成干涉成像技术领域,尤其涉及一种基于稀疏重构模型的重构图像质量评价方法。包括:S1:计算各配对基线的频率采样点;S2:计算重构图像的尺寸;S3:调整原始图像的尺寸;S4:基于步骤S1获得的各配对基线的频率采样点,生成频域掩模版;S5:利用频域掩模版对重构图像频谱进行更新;S6:对更新后的重构图像频谱进行傅里叶变换,获得重构图像;S7:计算重构图像的横向梯度与纵向梯度;S8:计算原始图像的横向梯度与纵向梯度;S9:计算重构图像和原始图像的梯度均方根误差;S10:基于梯度均方根误差对重构图像的像质进行评价。本发明为系统设计以及重构图像质量提供了有力指导。
技术关键词
干涉成像系统 重构模型 图像 评价方法 采样点 基线 频率 模版 误差 坐标 成像技术 波长 尺寸 表达式