适于可靠性测试的测试样品制备方法及测试样品

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适于可靠性测试的测试样品制备方法及测试样品
申请号:CN202411724045
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119395511A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种适于可靠性测试的测试样品制备方法及测试样品,其包括:提供待可靠性测试的功率器件芯片,并将所述功率器件芯片装配到DBC板上,以形成功率芯片组件;将上述形成的功率芯片组件装配到散热器上,以利用散热器对功率芯片组件散热,其中,在组件固定件内制备绝缘隔离保护层,并使得所述绝缘隔离保护层覆盖在功率芯片组件上,以利用所述绝缘隔离保护层对功率芯片组件进行绝缘隔离保护。本发明能节约可靠性测试的成本,缩短产品和工艺可靠性评估周期,提高产品开发或是工艺验证效率。
技术关键词
功率器件芯片 芯片组件 隔离保护层 测试样品 散热器 绝缘 端子 工艺可靠性评估 涂覆导热硅脂 支撑基板 散热组件 导热硅脂层 DBC板 接线 散热翅片 通孔 结温