CT系统缺陷检测能力对比试块、评价方法及系统

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CT系统缺陷检测能力对比试块、评价方法及系统
申请号:CN202411725943
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119555456A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种CT系统缺陷检测能力对比试块、评价方法及系统,包括:缺陷模拟试样A和基体圆盘B;对CT检测图像进行预处理,提取缺陷感兴趣区,获取缺陷检测能力评价二维平面;校正CT图像体素尺寸;进行亚像素边缘检测;对结果拟合,建立图像像素位置坐标;根据亚像素边缘点集获得不同位置基体灰度μl(h)和缺陷灰度μb(h);建立缺陷大小与灰度关系式,绘制缺陷大小D与的关系曲线一和人眼50%概率识别概率曲线二,获得最小可识别缺陷;建立缺陷尺寸及其测量误差关系曲线。本发明缺陷尺寸测量精度高,受图像噪声影响较小,能够定量评估最小的缺陷检出能力和缺陷测量误差。
技术关键词
CT系统 对比试块 系统缺陷 缺陷尺寸 能力评价方法 边缘检测 三角形 识别缺陷 曲线 膨胀算法 缺陷分割算法 感兴趣 测量误差 图像像素 canny算子 拉格朗日插值法 评价系统 切片