基于图卷积神经网络和统计模型约束的scRNA-Seq数据插补方法

本发明公开了一种基于图卷积神经网络和统计模型约束的scRNA‑seq数据插补的方法，包括如下步骤：1)数据预处理；2)图信息构建及预标签获取；3)基于GCN的初步插补；4)基于负二项/零膨胀负二项分布的统计学模型约束。这种方法插补精准度和实用价值高，下游分析效果好，为scRNA‑seq数据的插补提供了新思路和新方法。