一种大米产地溯源方法

本发明属于大米产地溯源领域，具体涉及一种大米产地溯源方法；该方法能够实现对大米进行准确溯源；该方法通过X射线荧光光谱仪获取大米样品粉末光谱数据，对大米样品粉末光谱数据进行处理得到处理后的光谱特征曲线；根据处理后的光谱特征曲线通过正交偏最小二乘判别分析法、主成分分析法、随机森林算法或支持向量机模型对大米产地溯源模型进行训练，得到训练后的大米产地溯源模型；通过训练后的大米产地溯源模型对未知产地的大米进行溯源，输出大米产地；本方法在具体实验操作上无需专业人员开展，无需建立标准曲线，仅仅需要将大米制样采集获取大米的处理后的光谱特征曲线即可，提升了大米产地溯源方法的便捷性。