缺陷检测模型参数的构建方法、控制器、介质及产品

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缺陷检测模型参数的构建方法、控制器、介质及产品
申请号:CN202411821201
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119810509A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本申请提出了一种缺陷检测模型参数的构建方法、控制器、介质及产品,包括:获取多张产品图像;将多张产品图像输入深度学习模型,得到推理结果,其中,推理结果包括缺陷类别;根据推理结果设置初始严格阈值、初始平衡阈值和初始宽松阈值;基于缺陷类别,根据初始严格阈值、初始平衡阈值和初始宽松阈值对深度学习模型的检测参数进行修正,得到修正后的缺陷检测模型参数。由于本申请基于模型推理结果以及分析实际生产的需求,得到修正后的缺陷检测模型参数,进而使缺陷检测模型在实际生产过程中,具备检测缺陷的灵活调整能力,能根据客户需求实时调整检测阈值,确保检测结果既符合特定的质量标准,又适应不同批次的动态要求,实现精准、高效的检测。
技术关键词
缺陷类别 缺陷高度 深度学习模型 参数 计算机可执行指令 点状缺陷 可读存储介质 计算机设备 图像 处理器 检测缺陷 计算机程序产品 控制器 存储器 客户 算法 动态