一种芯片间数据传输链路稳定性测试装置及测试方法

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一种芯片间数据传输链路稳定性测试装置及测试方法
申请号:CN202411826199
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119375680A
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本申请的实施例公开了一种芯片间数据传输链路稳定性测试装置及测试方法,涉及集成电路测试技术领域,为能够确定芯片间数据传输链路传输数据的稳定性而发明。所述装置包括:第一数据生成模块与第一芯片的物理传输层相连;第二芯片设于基板上;数据检测模块分别与第二数据生成模块和第二芯片的物理传输层相连;第一数据生成模块用于生成第一测试数据;第二数据生成模块用于生成第一测试数据的镜像数据;数据检测模块用于接收第一数据生成模块经过数据传输链路传输的第一测试数据,以及第二数据生成模块生成的第一测试数据的镜像数据,并将接收的第一测试数据和第一测试数据的镜像数据进行比较,确定发生错误的误码比特数。本申请适用于芯片测试。
技术关键词
芯片 延时模块 数据检测单元 测试接口 稳定性测试装置 指令 链路 镜像 比特数 测试机 频率转换 物理 集成电路测试技术 稳定性测试方法 计数器 基板