一种芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质

本发明实施例提供了一种芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质，该方法的信号编解码器通过第一引脚向芯片的解析器发送从测试终端接收到的第一电平数据流，以使解析器根据第一电平数据流向至少一个处理模块发送第一电平信号，然后接收解析器通过第一引脚发送的第二电平数据流，第二电平数据流为信号编解码器根据从至少一个处理模块接收的第二电平信号进行编码得到，并将第二电平数据流发送至测试终端，从而在芯片测试的过程中，通过第一引脚对芯片内部各种信号的电平进行写入和读取，从而减少了测试芯片内部模块时所需的引脚，在外部引脚较少的芯片上也能够进行芯片测试。