缺陷检测方法及装置

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缺陷检测方法及装置
申请号:CN202411837368
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119470447A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开的是非接触式光学检测技术领域的一种缺陷检测方法及装置。包含:搭建检测系统,含采集图像信息的成像模块和采集相位信息的相位探测模块;将标准玻瓶样品置于工作台,成像模块利用边缘提取算法记录玻瓶边缘信息为标定结果;相位探测模块利用典型相位测量标定方法记录标定信息;待测玻瓶置于工作台,使成像模块上待测玻瓶的边缘与成像模块的标定结果重合;成像模块和相位信息探测模块分别采集图像和相位信息,上位机通过比较缺陷位置对应的标准玻瓶的相位信息以及被测玻瓶的相位信息,判断分析缺陷是否检测正确。通过光场多维度信息的获取,降低检测干扰影响,提高检测准确率,同时有自动化程度高、检测精度高以及检测高效等优势。
技术关键词
缺陷检测方法 成像模块 哈特曼波前传感器 开启照明 边缘提取算法 调节工作台 分析缺陷 透镜阵列 标定方法 接触式光学 图像 平面光源 成像镜头 典型 芯片 光束 相机