基于射线投影的顶头表面缺陷检测方法及系统

申请号：CN202411842646

申请日期：2024-12-13

公开号：CN119672007A

公开日期：2025-03-21

类型：发明专利

摘要

本发明提供基于射线投影的顶头表面缺陷检测方法及系统，方法包括：原始点云数据降采样；点云分割；射线投影计算深度图像；基于深度图进行缺陷检测。本发明解决了点云空间三维信息利用不充分、去噪效果差、顶头缺陷检测的可靠性及便利性低的技术问题。

技术关键词

表面缺陷检测方法射线表面缺陷检测系统顶头点云深度图区域计算方法数据分辨率代表图像生成方法图像处理模块基准面断面轮廓投影模块计算中心密度坐标