摘要
本申请提供一种功能安全验证优化方法、系统、可读存储介质及产品，属于集成电路技术领域。方法包括：对芯片版图布局中多个功能安全模块进行冗余隔离违例检查；若存在冗余隔离违例，则根据冗余隔离违例、设计规则、功能安全需求、芯片数据流信息以及时序优先级信息，对芯片版图布局中模块位置进行调整，获得调整后的芯片版图布局；对调整后的芯片版图布局进行评估，确定目标芯片版图布局。通过本申请提供的功能安全验证优化方法，实现了对功能安全模块的冗余设计的物理隔离性检查，弥补了传统技术中对冗余设计的物理隔离性检查的缺失，增加了验证流程的反馈信息，能够获得优化度更高的芯片版图布局。
