一种工业CT几何位置参数校正方法

本发明涉及检测技术领域，具体涉及一种工业CT几何位置参数校正方法，采集细丝投影图像；重建细丝的上中下三层图像；根据灰度集中度定义目标函数；使用优化算法搜索使目标函数取最小值时的几何参数。本发明显著减少或消除CT系统中存在的几何参数偏差。这种偏差是导致重建图像畸变和模糊的主要原因。因此，校正方法的应用将直接提升图像的重建精度，使得锥束工业CT的图像更加清晰、准确，满足更高标准的检测需求，相较于传统方式简化校正流程，减少人工干预，从而大幅提高校正效率。这不仅降低了操作难度，还缩短了校正周期，使得CT设备能够更快地恢复到最佳工作状态，从而解决了传统的调校方式精度较低的问题。