一种大尺寸目标低频段散射特性外推技术
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一种大尺寸目标低频段散射特性外推技术
申请号:
CN202411857869
申请日期:
2024-12-17
公开号:
CN119738788A
公开日期:
2025-04-01
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种大尺寸目标低频段散射特性外推方法,涉及雷达目标散射特性测试技术及成像技术领域。该方法利用大尺寸目标在高频段的雷达散射截面积(RCS)散射测试数据,建立目标的几何绕射(GTD)散射中心模型,采用参数谱估计技术实现散射成像;然后利用散射中心的频率特性获取目标低频段的散射中心模型,最后重构出目标低频段的RCS散射数据,实现大尺寸目标散射特性的低频段外推。该方法对大尺寸目标具有较高的散射特性外推精度,且物理概念清晰,易于实现,能解决低频段RCS测试的困难,拓展RCS测试带宽。
技术关键词
外推技术
噪声子空间
大尺寸
低频段
频率响应
算法
雷达散射截面积
参数
紧缩场暗室
特性测试技术
数据
高频段
电场
信号
外推方法
散射成像
矩阵
判断准则
回波
特征值