一种大尺寸目标低频段散射特性外推技术

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一种大尺寸目标低频段散射特性外推技术
申请号:CN202411857869
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119738788A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种大尺寸目标低频段散射特性外推方法,涉及雷达目标散射特性测试技术及成像技术领域。该方法利用大尺寸目标在高频段的雷达散射截面积(RCS)散射测试数据,建立目标的几何绕射(GTD)散射中心模型,采用参数谱估计技术实现散射成像;然后利用散射中心的频率特性获取目标低频段的散射中心模型,最后重构出目标低频段的RCS散射数据,实现大尺寸目标散射特性的低频段外推。该方法对大尺寸目标具有较高的散射特性外推精度,且物理概念清晰,易于实现,能解决低频段RCS测试的困难,拓展RCS测试带宽。
技术关键词
外推技术 噪声子空间 大尺寸 低频段 频率响应 算法 雷达散射截面积 参数 紧缩场暗室 特性测试技术 数据 高频段 电场 信号 外推方法 散射成像 矩阵 判断准则 回波 特征值