一种芯片测试方法、装置及系统

本申请公开了一种芯片测试方法、装置及系统。该方法应用于芯片测试系统，芯片测试系统包括上位机模块、执行模块、存储模块、多通道模块和采样模块，方法包括：接收上位机模块发送的测试指令，测试指令包括数据识别编号；基于测试指令从存储模块中读取对应的测试数据，并将测试数据发送至多通道模块，以使多通道模块基于测试数据对目标被测器件进行测试；接收采样模块发送的结果数据，并基于数据识别编号将结果数据存储至存储模块；响应于结果数据存储至存储模块，发送结果数据至上位机模块，本申请通过预存测试数据对目标被测器件进行测试，无需进行测试数据的组包和解析，从而减少测试时间，提高测试效率。