一种测试方法、装置、芯片以及存储介质

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一种测试方法、装置、芯片以及存储介质
申请号:CN202411867028
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119694233A
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理领域,提供一种测试方法、装置、芯片以及存储介质,该方法包括:获取至少一列子像素为测试列的第一图像数据;其中,所述测试列中的子像素亮度与非测试列中的子像素亮度不同;获取目标垂直分辨率;根据所述第一图像数据生成与目标垂直分辨率相同的第二图像数据;其中,所述第二图像数据中的测试列的数量以及列数与所述第一图像数据相同;将所述第二图像数据输出至显示屏进行显示。本申请中可以直接接收第一图像数据,生成第二图像数据至显示屏进行显示,无需人工生成测试图和外接测试盒对显示屏进行测试,节约了测试时间和测试成本。
技术关键词
分辨率 原始图像数据 像素 显示屏 测试方法 亮度 存储器 可读存储介质 芯片 先进先出 处理器通信 图像处理 计算机 指令