一种基于显微图像分割的电极箔断层厚度测量方法

本发明提供一种基于显微图像分割的电极箔断层厚度测量方法，涉及数字图像处理技术领域，该方法包括通过高分辨率显微设备获取电极箔断层显微图像，并通过灰度直方图均衡进行图像增强以提升图像对比度。随后，对图像增强后的显微图像除标签外区域逐行统计像素灰度特征，确定最小灰度平均值位置，据此裁剪目标区域。接着，对裁剪区实施自适应阈值分割及形态学处理，获得精确分割结果。同时，对标签区进行固定阈值分割，提取像素标尺，计算单个像素实际尺寸。最后，统计分割区域像素面积，计算平均像素厚度，并转换为实际断层平均厚度。本发明方案自动化程度高，测量精确，适应性强，有效提升了电极箔断层厚度测量的效率与准确性。