一种跟踪扫描测量方法和计算机设备

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一种跟踪扫描测量方法和计算机设备
申请号:CN202411907579
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119687830B
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种跟踪扫描测量方法和计算机设备,所述跟踪扫描测量方法应用于跟踪扫描测量系统,该跟踪扫描测量系统包括二维测角驱动装置、接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪,在跟踪坐标测量模式下,通过控制二维测角驱动装置带动接触激光跟踪仪的跟踪扫描设备按照设定的移动策略实时跟踪接触激光跟踪仪的跟踪合作目标以获取目标坐标系下的坐标数据;在扫描测量模式下,通过控制二维测角驱动装置带动非接触激光扫描仪按照设定的扫描策略扫描待测量面以实时获取待测量面在目标坐标系下的扫描点云数据。本发明可以通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量,显著提升检测效率。
技术关键词
扫描测量方法 氦氖激光器 测距模块 回转驱动机构 激光扫描仪 扫描点云数据 水平回转轴 扫描设备 扫描路径规划 透镜组件 旋转支撑架 扫描策略 光纤反射镜 分光镜 准直镜 分束器 光纤开关 跟踪器 坐标系