一种图像识别与参数校准相结合的高精度尺寸测量方法
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一种图像识别与参数校准相结合的高精度尺寸测量方法
申请号:
CN202411908561
申请日期:
2024-12-24
公开号:
CN119832048B
公开日期:
2025-08-29
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及图像识别技术领域,公开了一种图像识别与参数校准相结合的高精度尺寸测量方法,包括以下步骤:采集阻火器的初始运行状态和初始非运行状态下的扫描图像数据;采集阻火器当前状态下的扫描图像数据;将阻火器初始运行状态下的扫描图像数据和阻火器当前状态下扫描图像数据输入尺寸测量模型中,并输出阻火器波纹间距的测量结果;本发明通过深度学习技术来对图像特征进行分离和校准,能够对在线状态下的超声波扫描图像数据进行识别来进行准确的波纹间距测量。
技术关键词
尺寸测量方法
参数校准
初始运行状态
阻火器
图像识别模块
序列
数据
超声波扫描
识别介质
图像识别技术
深度学习技术
间距
编码
时序
可读存储介质