基于共聚焦的像素级清晰度判断与3D融合重构系统及方法

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基于共聚焦的像素级清晰度判断与3D融合重构系统及方法
申请号:CN202411910477
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119354504B
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光学组件检测技术领域,提出了一种基于共聚焦的像素级清晰度判断与3D融合重构系统及方法,利用共聚焦检测模块通过逐点扫描技术对镜片的每个像素进行高精度的清晰度检测,确保识别表面及内部的微小缺陷。接着,缺陷识别模块对检测结果进行分析,确定缺陷的具体位置和类型,并生成详细的缺陷报告。随后,3D重构模块根据缺陷识别结果构建镜片的三维模型,评估这些缺陷对成像效果的影响,帮助生产商了解缺陷的严重性。最后,数据分析模块对所有检测和重构数据进行整理和分析,以提供全面的生产优化建议,确保光学组件的质量与稳定性。通过这四个模块的紧密协作,本发明能够实现对VR眼镜光学组件的全面、精准检测与分析。
技术关键词
重构系统 激光束 三维模型 Hessian矩阵 数据分析模块 像素 聚焦检测装置 表达式 重构模块 光电倍增管 图像分割 镜片缺陷 线性回归模型 激光反射镜 采集组件 识别模块 光学组件检测