短脉冲激光测试装置及其测试方法

本申请涉及一种短脉冲激光测试装置及其测试方法，整个测试装置包括驱动电路、第一光电接收组件、第二光电接收组件、以及上位机，待测激光芯片在驱动电路的驱动下发射光线，上位机识别所需测量参数类型，若所需测量参数类型为脉宽，则启动第一光电接收组件采集待测激光芯片在驱动电路驱动下发射的光；若所需测量参数类型为功率，则启动第二光电接收组件采集待测激光芯片在驱动电路驱动下发射的光；上位机根据第一光电接收组件或、第二光电接收组件采集的光电信号对待测激光芯片进行测试。整个装置基于不同的测试参数类型选择不同的光电接收组件采集光电信号，确保了测试的准确，因此其可以实现准确的短脉冲激光测试。