一种放电管寿命测试电路

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一种放电管寿命测试电路
申请号:CN202411924507
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119758000A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种放电管寿命测试电路,包括待测样品、主控电路和电压采样电路,所述主控电路分别与待测样品以及电压采样电路连接,所述电压采样电路也与所述待测样品连接用于采集放电管样品输出端电压并反馈至主控电路,所述主控电路用根据反馈结果判断所述待测样品的工作状态;所述主控包括主控芯片、驱动芯片、继电器RY1和继电器RY2;主控芯片与所述驱动芯片连接,所述驱动芯片和放电管测试样品分别与所述继电器RY1以及继电器RY2连接。本发明通过主控电路和采样电路的配合,通过测试放电管的动作电压来检验放电管参数是否符合设计要求,通过高动作电压,长时间测试,检测出放电管样品的寿命次数,为控制器产品设计提供有力保障。
技术关键词
寿命测试电路 驱动芯片 测试样品 电压采样电路 主控电路 主控芯片 继电器 驱动信号 钳位二极管 电容 电阻组件 支路 采样电阻 线圈端 接口