小区指标质差检测方法、装置、计算机设备和存储介质

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小区指标质差检测方法、装置、计算机设备和存储介质
申请号:CN202411929186
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119815395B
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本公开提出一种小区指标质差检测方法、装置、计算机设备和存储介质,该方法包括:获取小区的时间序列数据,其中,时间序列数据包括:多个时间点及与每个时间点对应的小区指标数据;对时间序列数据进行频域变换处理,得到多个频率分量;对每个频率分量进行映射处理,得到对应的数据点,其中,数据点具有对应的目标数据信息;根据目标数据信息对多个数据点进行聚类处理,得到至少一个聚类簇,其中,每个聚类簇中包括:至少部分数据点;以及对至少一个聚类簇进行质差检测,得到检测结果。通过实施本公开的方法,能够通过频域变换处理和聚类处理减少对参数选择的依赖,降低计算成本并提高处理高维数据的能力,进而提升了异常检测的准确性和效率。
技术关键词
数据 频率 小区 序列 计算机设备 指标 周期性 聚类 计算机程序产品 处理器通信 模块 指令 可读存储介质 存储器 样本 算法 参数