一种原子干涉陀螺仪标度因数测试方法及系统

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一种原子干涉陀螺仪标度因数测试方法及系统
申请号:CN202411945977
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119901313B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种原子干涉陀螺仪标度因数测试方法及系统,该方法包括:将原子干涉陀螺仪固定于转台,启动原子干涉陀螺仪,将拉曼光DDS发生器相位作为原子干涉陀螺仪的第一输出相位;启动转台,控制转台以给定角速度进行正向和反向转动,记录锁腰相位补偿后的第二输出相位;测试结束后,记录转台静止时原子干涉陀螺仪的第三输出相位,根据第一输出相位和第三输出相位计算转台静止时原子干涉陀螺仪输出平均值;基于第二输出相位和平均值计算不同给定角速度下原子陀螺仪输出,构建对应的原子干涉陀螺仪输入输出模型;通过最小二乘法拟合对模型进行求解,得到标度因数。该方案不仅抗环境振动干扰能力强、测试精度高,而且测量速度快、效率高。
技术关键词
原子陀螺仪 转台 原子团 PID算法控制 干涉条纹 发生器 测试方法 计算机 基准 脉冲 指令 速度