一种线结构光传感器光平面标定误差评价方法及标定方法

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一种线结构光传感器光平面标定误差评价方法及标定方法
申请号:CN202411946251
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119737860A
公开日期:2025-04-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种线结构光传感器光平面标定误差评价方法,光平面的标定过程为获取表面投射有激光光条的靶标图像,并提取激光光条中心点的像素坐标;再利用相机的标定参数,分别将光条中心点和靶标平面转换到相机坐标系下;在相机坐标系下,将光心与各光条中心点连线,记其与靶标平面的交点为基准点;以基准点拟合光平面,完成标定;误差评价方法包括:S1、将相机光心与各基准点连线,其分别与光平面的交点记为理论点;S2、计算各理论点与其对应的基准点之间的偏差值,或者计算各理论点在靶标图像上的反投影点与靶标图像中光条中心点之间的偏差值,以其为光平面标定的误差。本方法评价过程简单可靠,能够提高光平面标定的精度。
技术关键词
线结构光传感器 标定误差 靶标 误差评价方法 坐标系 偏差 理论 图像 激光 特征点 相机光轴 连线 投影算法 标定方法 像素
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